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     德***BMT（Breitmeier Messtechnik GmbH）作為德*** 進的三維測量技術和應用的制造商，在表面測量的技術領域具有豐富的經驗，能夠為客戶的需求做出快速靈活的判斷，并為客戶提供更加***的、性價比高的、創新的表面測量解決方案，其優勢在于對非接觸式（光學）、接觸式表面輪廓儀和粗糙度測量儀器的研發。

產品范圍：

德***BMT干涉儀、BMT滾軸表面輪廓儀、BMT、BMT原子力顯微鏡、BMT觸針可控儀器

產品系列：

WLILab 干涉儀、WLI Linnik干涉儀、WLI LA干涉儀、WLI VLA干涉儀、WLIRing干涉儀、WLI Infra干涉儀、Surfiler滾軸表面輪廓儀

德***BMT WLI Linik干涉儀特點：

•區域表面的形貌測量；

•數秒內快速測量；

•粗糙和光滑表面都可測量；

•測量結果不受樣品的顏色和材料影響；

•產品堅固耐用。

德***BMT WLI Linik干涉儀技術參數：

•光源                            LED

•測量范圍    （mm)              150

•垂直分辨率（nm）               1

•橫向分辨率（μm）              ＞0.2

•測量面積    （μm）            90×70            

•工作距離，約（mm)              0.3

•光斑尺寸，約（μm)              0.95

•圖像尺寸（Pixel）               1～10

德***BMT Surfiler 滾軸表面輪廓儀簡介：

德***BMT Surfiler 滾軸表面輪廓儀用于對金屬表面結構和粗糙度進行光學測量評估和記錄。

•滾筒和平整表面的粗糙度和微結構測量；

•可簡單安放到滾筒上；

•可用于各種表面，如昏暗、光亮和彩色表面；

•簡單非接觸測量，節省時間，橫向和徑向分辨率高；

•表面結構的輕松記錄；

•符合人體工學的掃描操作設計；

•通過拼接實現大范圍測量；

•使用普通PC獲取數據，多種格式數據輸出，如tif、Excel、ASCⅡ。

技術參數：

•測量面積    [μm]             250 x 250 (或定制)

•垂直分辨率  [nm]               >1

•橫向分辨率  [μm]              >1

•測量時間    [s]                 3-50

•測量范圍    [μm]              150

•圖片尺寸    [Pixel]             1300 x 1100

•外觀尺寸    [mm]              400 x 120 x 160

•重量        [kg]              5

•位移        X 軸 [mm]          30

             Y 軸 [mm]          10