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 功能特點(diǎn)：

可用于半導(dǎo)體硅晶片、LCD基板、電路板、固體粉未及其它各種透明或不透明工業(yè)試樣的檢驗(yàn)，是生物學(xué)、金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子工程學(xué)等研究的理想儀器

技術(shù)參數(shù)：

▲      采用無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)及模塊化功能設(shè)計(jì)。

▲      長(zhǎng)工作距離明/暗視場(chǎng)平場(chǎng)物鏡，視場(chǎng)大而清晰。

▲      廣角平場(chǎng)目鏡：視場(chǎng)直徑Ф22mm。

▲      粗微動(dòng)同軸調(diào)焦機(jī)構(gòu)，粗動(dòng)松緊可調(diào)，帶限位鎖緊裝置，微動(dòng)格值:2μm。

▲      內(nèi)置式可切換偏光觀察裝置，起偏器可360°旋轉(zhuǎn)。

▲      上光源采用翻蓋式12V50W鹵素?zé)粝洌鼡Q燈炮安全便捷，下光源采用12V30W鹵素?zé)簦友b散熱片。

▲      三目鏡筒可自由切換目視觀察與顯微攝影，攝影時(shí)可***通光，適合暗視場(chǎng)顯微圖像拍攝。

基本配置：

可選附件：