MFP-3DTM標準型原子力顯微鏡
功能完善的高精度AFM/SPM
原子力顯微鏡是在納米尺度上進行三維測試的理想工具。現(xiàn)在科學***們可以選擇***款高靈敏度、高精度、低噪音并且?guī)в蟹浅？茖W的操作軟件的原子力顯微鏡-MFP-3D-SA。MFP-3D-SA是物理，材料學，聚合物，化學，納米刻蝕，生物科學以及定量納米測試的理想選擇。MFP-3D能夠非常靈活的獲取數(shù)據(jù)，分析數(shù)據(jù)并直接輸出可出版的圖片。MFP-3DTM真正放飛您的科研夢想
技術創(chuàng)新:
高精度的閉環(huán)定位系統(tǒng)實現(xiàn)了高分辨率的成像，并保證了成像的精度和可重復性
***創(chuàng)的全數(shù)字化控制器和開源的操作軟件
內置眾多模式：如實時3D圖像構建，納米刻蝕/操縱以及Dual ACTM模式-雙共振諧波成像
**的靈活性和可擴展性設計，具有眾多的環(huán)控附件和功能附件擴展性能，包括納米壓痕和高壓壓電響應顯微鏡（PFM）等。
業(yè)內優(yōu)越的售后服務-五年全免費質保
MFP-3D頭部
噪音低，消除光學干擾
帶有傳感器的光學杠桿僅受衍射的影響和低相干光源的采用真正消除了干涉的影響。NPSTM納米傳感器和Z軸定位系統(tǒng)精確定位探針的位置以進行精確力學測試和形貌測量
MFP-3D XY掃描器
不同于任何管式掃描器的精密度和準確度
MFP-3D采用了平板式的掃描器和具有的NPSTM傳感器，能夠準確測量每個掃描軸(X-Y)的精確位置。通過這種平板式掃描消除了電滯和蠕變，并能夠通過鼠標點擊實現(xiàn)圖像的精確縮放和移動。
MFP-3D基座
三種可選配置用于樣品的照明和觀察
上視光路-觀察不透明的樣品
下視光路-觀察透明樣品
雙光路-具有以上兩種觀察光路
全數(shù)字化ARC2控制器和開源的軟件，MFP-3D整個系統(tǒng)都可以通過操作軟件來進行控制，并且可隨時通過軟件的升***擴展新功能。
Asylum Research
Asylum Research是由科學***們創(chuàng)立的，其目的就是為其他科學***創(chuàng)造世界上優(yōu)越的研究儀器。無論您的研究是材料科學，生命科學，聚合物，納米測試，電學或磁學測量等,Asylum Research都是AFM領域內的技術**。
個性化、無可匹敵的客戶支持
Asylum Research對MFP-3D提供5年免費質保。我們的應用科學***輔佐您的研究。利用“OnSight”遠程支持系統(tǒng)，我們可以通過互聯(lián)網(wǎng)診斷和控制AFM系統(tǒng)，我們基于Web的系統(tǒng)能夠通過共享您的屏幕，鼠標和鍵盤，遠程控制客戶的電腦進行培訓和診斷故障。
應用實例：
材料科學
Aggregate of colloidosomes formed from the flash-curing of methacrylate emulsion droplets that are stabilized with 400nm PMMA latex spheres, 50μm scan.
設備科學
Iomega Zip 1GB drive write head. The MFM phase signal was overlaid on top of the topography, 20μm scan.
生命科學
Shewanella oneidensis strain MR-1 bacteria showing conductive bacterial nanowires, 5μm scan. Sample courtesy M. El-Naggar, USC and Y. Gorby, J. Craig Venter Institute.
納米壓印
Nanoindentation on silicon, 1μm scan.
力曲線
Mechanical unfolding of protein
MFP-3D 功能模式：
MFP-3D可以實現(xiàn)全面的SPM表面表征技術，包括：
接觸模式：利用探針偏轉反饋進行成像。可以獲得高度，反饋和橫向力信號
輕敲模式(AC和DualACTM模式)：帶有Q-control模式的振幅反饋成像。可在大氣或液相環(huán)境下獲得高度，振幅/相位，反饋等信號
力學模式：輕敲或解除模式下的力曲線測試
橫向力：摩擦力成像模式
MicroAngelo:標配的納米刻蝕和納米操縱軟件
靜電力顯微鏡(Electric Force Microscopy, EFM)
掃描開爾文顯微鏡(Scanning Kelvin Probe Microscopy, SKPM)
導電原子力顯微鏡(Conductive AFM, CAFM)-搭配ORCATM附件實現(xiàn)CAFM.
磁力顯微鏡(Magnetic Force Microscopy,MFM)
可變磁場磁力顯微鏡(可選)
壓電力顯微鏡(Piezoresponse Force Microscopy)
矢量壓電力顯微鏡(Vector PFM)
壓電力響應譜測試(高壓可選)
垂直納米壓印(可選)
雙頻共振追蹤(Dual AC Resonance Tracking, DART）
熱分析[Thermal Analysis (可選)]
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
