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AFM檢測性能的全新定義

 Dimension Icon展現出無與倫比的檢測性能，功能全面，簡便易用，為高質量AFM成像和相關科學檢測設定了新的標準，科研領域和工業領域的研究者完成出色的研究工作，輕松獲得納米尺度上的檢測結果。

Bruker Dimension® Icon 原子力顯微鏡為工業界和科研界納米領域的研究者帶來了全新的AFM應用體驗，其測試功能強大，操作簡便易行。仍然以世界上應用*廣泛的AFM大樣品平臺為 基礎，齊集 Dimension系統數十年的技術經驗，廣大客戶反饋，結合工業領域的設備需求，進行全面革新。全新的系統設計，實現了前所未有的低漂移和低噪音水平， 現在用戶只需要幾分鐘就可獲得真實準確的掃描圖像。

Dimension Icon還配備了Bruker技術ScanAsyst（自動掃描成像模式），用戶可以簡易快捷地獲得重復性更好的數據，并且降低了對客戶操作經驗和操作水平的要求。作為目前配置的AFM，保證客戶高效完成所需的檢測任務。

聚合物材料表征，集成光路測量，材料力學性能表征，MEMS制造，細胞表面形態觀察，生物大分子的結構及性質，數據存儲，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質研 究，食品、化學品、護膚品的加工/包裝，液晶材料性能表征，分子器件，生物傳感器，分子自組裝結構，光盤存儲，陶瓷工藝，薄膜性能表征，地質、能源、環境 等領域

Dimension®  Icon***的圖像分辨率，與Bruker特有的電子掃描算法相結合，顯著提升了測量速度與質量。Dimension®系列大樣品臺原子力顯微鏡始終處 于行業地位，*新的Dimension®  Icon?是針尖掃描技術的又***次革新，配置溫度補償位置傳感器，實現了Z軸亞埃***和XY軸埃***的低噪音水平，將其應用在90微米掃描范圍的大樣品臺體 系 上，效果甚至優于高分辨小樣品臺AFM的開環噪音水平。全新設計的XYZ閉環掃描頭，即使在較高的掃描速度工作時，也不會損壞圖像質量，實現了更大的數據 采集輸出量。
終極體驗
獨特的傳感器設計，在閉環條件下，也能實現大樣品臺、針尖掃描的AFM具有與開環噪音水平***樣的低噪音水平，且具有極高的掃描分辨率
極大地降低噪聲水平，在輕敲模式下低于30pm，接觸模式下可獲得原子***圖像
熱漂移速率低于200pm/分鐘，獲得真正的樣品圖像
高效率
XYZ閉環掃描器的完美設計，使儀器在較高掃描速度工作時，也不降低圖像質量，具有更大的數據采集效率
將十年的研發經驗融入到參數預設置中，在新的NanoScope® 軟件帶有默認的實驗模式。
高分辨率相機和X-Y定位可快速、高效地找到樣品測量位置
全功能
針尖和樣品之間開放式的空間設計，不僅可以進行各種標準實驗，也可以自行設計實驗方案，滿足不同研究工作的需求
硬件和軟件技術的不斷創新，新開發的HarmoniX 模式，可以測量納米尺度上材料性質

用戶實用程序腳本提供半自動測量方案和數據分析